XTEM相关论文
离子辐照会影响半导体器件的性能,进而使得器件在空间辐射等特定环境条件下的工作寿命和可靠性退化.研究了经过1 MeV Xe离子辐照后......
集成电路工艺的迅速发展在一个芯片上已可以制作10~5以上的元件,即LSI和VLSI大规模和超大规模。集成度的提高使元件的最小尺度降......
非晶态半导体超晶格一种新发展的材料。它一般由两种极薄的薄膜交替迭合而成,单个薄层的厚度从十几埃到数百埃。薄层的厚度、厚度......
A SOI material with thick BOX (2.2 μm) was successfully fabricated using the Smart-cut technology. The thick BOX SOI mi......
本文利用透射电镜对离子镀铝青铜膜进行横截面显微组织研究结果表明:整个膜层分为细等轴晶、细纤维状及柱状晶三种不同形态的生长......
利用透射电镜对离子镀的不锈钢多层膜的横截面显微组织与结构进行了研究。结果表明，离子镀不锈钢多层膜为细晶粒的奥氏体和铁素体双......
低温电镀铁层的ＸＴＥＭ研究许晓磊王亮扈心坦黑祖昆（大连海事大学，大连１１６０２４）低温电镀铁广泛用于修复受磨损及腐蚀的零部件。镀层与基体的结合强度......
用X-ray衍射（XRD）方法研究了磁控溅射制备的MmNi35（CoAIMn）1．5／Mg（简写为Mg／MmM5）多层薄膜吸放氢前后的结构变化和储氢性能。XRD表明Mg／MmM5......
应用ＸＴＥＭ技术及ＸＲＤ观察了不同基体材料表面上离子镀１Ｃｒ１８Ｎｉ９Ｔｉ不锈钢膜的生长形貌及相结构，结果表明不同结构的基体材料膜层组织结构有重要影响，在低碳......
<正> 近几年来,SOI(silicon on Insulator)材料因用于制备抗辐照、高速CMOS电路及三维集成电路等受到人们越来越多的关注。在各种S......
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报道用金属有机汽相外延技术(MOVPE)生长GaAs/Al_xGa_(1-x)As超晶格结构材料及其光电器件应用,用横断面透射电子显微术(XTEM)表征......
成功制备了多弧离子镀TiAlN/Ti多元复合涂层的截面透射试样,并分别用TEM和EDS等手段研究了涂层的组织结构和界面结构.结果表明,多......
